ZEISS tisztaságvizsgálati megoldások

Azonosítsa a kiváltó okot, és hozzon gyorsabban jó döntést

További információkért forduljon hozzánk bizalommal

Gyorsabb standard elemzések
Mutassa ki a fényes fémrészecskéket egyetlen szűrő szkennelés segítségével
Gyorsabb részecskeosztályozás
A munkafolyamaton belül kombinálja zökkenőmentesen a fény- és elektronmikroszkópiát
Gyorsabb döntéshozatal
Elemezze a kritikus részecskék kémiai összetételét a szennyeződés forrásának kimutatásához
Gyorsabb jelentés
Hozzon létre egy munkamenetben a jelenlegi ipari szabványoknak megfelelő tisztasági jelentéseket
Gyorsabb részecskeelemzés
és -azonosítás az integrált gépi tanulási algoritmusokkal

Mit jelent a műszaki tisztaság?

A műszaki tisztaság fontos szerepet játszik, főleg azokon a területeken, ahol a komponensek gyártása történik, mint például az elektrotechnikában és az autóiparban. Ha szennyeződés következik be a részecskék szempontjából érzékeny pontokon, az gyorsan működési zavarokhoz vagy akár meghibásodásokhoz is vezethet. Ha egy rendszerben olyan alacsony a maradék szennyeződés szintje, hogy nem keletkezik kár, akkor a rendszer műszakilag tisztának tekintendő.

A műszaki tisztaság különösen fontos a következő ágazatokban:

Autógyártás és elektromos járművek
Egészségügyi ipar
Gépipar
Additív gyártástechnológia

Elektrotechnika és akkumulátorgyártás
Optikai ipar
Olajok elemzése és hidraulika

Miért olyan fontos a műszaki tisztaság?

A technológia fejlődésének köszönhetően számos iparágban egyre összetettebb rendszerekre van szükség. Az autóiparban már az 1990-es években megfigyelhető volt a komponensek szennyeződéséhez köthető károsodás mértékének növekedése. Rövid időn belül egyértelművé vált, hogy a folyamatokat szabványosítani kell. Az úgynevezett „VDA 19 szabványt”, vagy más néven „Műszaki tisztaság tesztelése – Funkcionális szempontból releváns gépjármű-alkatrészek részecskeszennyeződése” elnevezésű szabványt 2004-ben tették közzé, majd 2015-ben felülvizsgálták a VDA 19 1. rész kiadásban. Nemzetközi szinten az ISO 16232 (2007) szabvány határozza meg az alapvető előírásokat. A 2010-es VDA 19 2. rész iránymutatást tartalmaz a gyártási sorok tisztaságára vonatkozó előírások tekintetében.

A VDA 19 1. rész pontosan meghatározza a szennyeződés különböző típusait. A meghatározások segítségével a szennyeződések tisztasági elemzések és egyéb műszaki tisztasági folyamatok segítségével észlelhetők, majd ezt követően meghozhatók a szükséges döntések. A cél a maradék szennyeződések kialakulásának megelőzése a komponenseken.

Részecskék

Szálak

Szilárd testek:

Fémek
Műanyagok
Ásványok
Gumik
Sók

A hosszúság és a szélesség aránya 1:20
Egy szál szélessége: ≤ 50 µm

Korrelációs részecskeelemzés
a folyamatkritikus szennyeződések jellemzése érdekében

A beszállítók, a gyártók és a végfelhasználók folyamatosan magasabb minőségi szabványokat várnak el. Ennélfogva alapvető fontosságú egy olyan, innovatív módon kialakított tisztasági folyamat, amelynek segítségével kiküszöbölhető a funkcionális szempontból releváns alkatrészek és komponensek szennyeződése a gyártási folyamat során. A ZEISS műszaki tisztasági megoldásai azonosítják a szennyeződés kiváltó okát, és lehetővé teszik, hogy gyorsabban meghozzuk a helyes döntést.

Hogyan lehet azonosítani a kiváltó okot? ZEISS műszaki tisztasági megoldások

Növelje a tárgyak osztályozásakor való termelékenységét a ZEISS ZEN alapvető műszaki tisztasági elemzésével.

ZEISS műszaki tisztasági munkamenet kivonással és szűréssel

Optimalizált folyamatok a műszaki tisztasági megoldásoknak köszönhetően

Maximális tisztaság – maximális minőség

A részecskeszennyeződések minden termék hatékonyságának, funkcionalitásának és tartósságának az ellenségei. A kutatások például kimutatták, hogy a hidraulikus és olajjal töltött rendszerek fő meghibásodási okát a részecskeszennyeződés jelenti. Az olaj elemzése segít a karbantartási költségek minimalizálásában és a gép hasznos működési idejének javításában.

A gyártóipar igényeire szabva

A ZEISS műszaki tisztasági megoldásainak kifejlesztése autóipari vállalatokkal és beszállítókkal együttműködve történt. Konkrét elvárásaik voltak a nagy teljesítményű részecskeazonosító és -vizsgáló rendszerekre vonatkozóan, és elvárták, hogy használatuk egyszerű és intuitív legyen.

Ennek eredményeként a ZEISS-megoldások könnyen használhatók, több helyen bármilyen gyártói vagy ipari környezetben alkalmazhatók, továbbá a mikroszkóp használatában nem járatos személyek is üzemeltethetik őket.

A ZEISS műszaki tisztasági megoldásai megfelelnek az érvényben lévő ipari szabványoknak:

Komponensek műszaki tisztasága	Olajtisztaság	Orvostechnikai eszközök műszaki tisztasága a gyártási folyamatban
VDA 19.1	ISO 4406	VDI 2083, 21. rész
VDA 19.2 (Illig érték)	ISO 4007
ISO 16232	DIN 51455
	SAE AS 4059

Az összes releváns adatot tartalmazó tisztasági jelentések egyetlen munkalépésben való létrehozása érdekében a ZEISS mikroszkópok és a HYDAC kivonóeszközök egy zökkenőmentes munkafolyamat során adatcserét folytatnak, ezzel egyéni, a termelékenységet növelő jelentést hoznak létre.
Magazinunkban többet tudhat meg arról, hogy a ZEISS miként integrálja a HYDAC készülékek adatait a jelentésekbe. Sikertörténet a műszaki tisztaságról a gépjárműiparban.

A szennyeződés lehetséges forrásai és alkalmazási területek

Az ábra egy golyóscsapágyban található részecskéket ábrázol.

Részecskék mozgó alkatrészek között, pl. golyóscsapágyban

Az ábrán egy injektor tömszelencéjében található részecskék láthatók, amely esetében a részecskék jelenléte a műszaki tisztaság hiányának tudható be.

Részecskék befecskendező fúvókákban, pl. motorokban

Az ábra olajban és kenőanyagokban található részecskéket ábrázol.

Részecskék olajban és kenőanyagokban

Az ábrán egy áramköri lapon található részecskék láthatók, amelyek jelenléte a műszaki tisztaság hiányának tudható be.

Részecskék elektromos érintkezők között, pl. nyomtatott áramköri lapon

Az ábra fecskendőkben található részecskéket ábrázol

Részecskék fecskendőkben és implantátumokban

50%-kal gyorsabb a ZEISS One-Scan tecnológiájával

Hatékonyabb az innovatív ZEISS szoftvermegoldásnak köszönhetően

A részecskék megszámlálásán és a méretük felmérésén kívül a műszaki tisztaságra vonatkozó szabványok azt is előírják, hogy különbséget tegyünk a fémes fényes és nem fényes részecskék között. A hagyományos módszerek csak úgy tudják végrehajtani ezt a megkülönböztetést, ha kétszer szkennelik a szűrőmembránt: mindig eltérő polarizátor- és analizátortájolással. A díjnyertes ZEISS One-Scan technológiának köszönhetően ez most csupán egyetlen szkenneléssel is lehetséges – ezáltal akár 50%-kal gyorsabban megszületik az eredmény. 2021 márciusában a Fraunhofer Institute for Manufacturing Engineering and Automation (IPA) intézet a REINER keretén belül első helyen díjazta a ZEISS One-Scan technológiáját! Fraunhofer Purity Technology díj.

A ZEISS ZEN alapvető műszaki tisztasági elemzésével végzett vizsgálat a következőket foglalja magában:

Teljes mértékben automatikus kiértékelés
A műtárgyak méretére, hosszára, felületére és koordinátáira vonatkozó információk
A fémes fényes és nem fémes fényes részecskék között a szűrőmembrán egyetlen szkennelésével különbséget lehet tenni
A műtárgyak méret szerinti osztályozása, felhőpontokként a termék ujjlenyomatával

Az ábrán a műszaki tisztaság kiértékelését megjelenítő monitor látható.

Maximális termelékenység. A műszaki tisztasági elemzésnek köszönhetően

A ZEISS szoftver a gépi tanulás segítségével felgyorsítja a műtárgyak osztályozását

A műszaki tisztaság a ZEN alapvető szoftverének termékcsaládjába tartozik az ipari mikroszkópiás ágazaton belül. A részecskék osztályozásának optimalizálása érdekében a ZEISS elérhetővé teszi a ZEISS ZEN alapvető felhasználóinak a műszaki tisztasági elemzési (Technical Cleanliness Analysis, TCA) megoldást, amely három, gépi tanuláson alapuló, előre betanított modult tartalmaz. A modul segítségével a részecskék a megvizsgált képen található mért paraméterek alapján osztályozhatók. A mintákat három, előre betanított gépi tanulási modell elemzi, amelyek betanítását a felhasználók és az ügyfelek is végezhetik. A mintákat szürkeárnyalatos meghatározás alapján elemzik, az objektumok osztályozásához előre betanított gépi tanulási modell pedig az új TCA munkasablonokban a háttérben fut, miközben a rendszer párhuzamosan ellenőrzi a típusok osztályozását a meglévő részecskemérések eredményei alapján. Ez a gépi tanulási algoritmusokkal végzett típusosztályozási kiegészítő ellenőrzés „megnézi” a többek között a méreten, a formán, az intenzitáson és a típusosztályozáson végzett klasszikus elemzés által szerzett részecskeeredményeket, majd kombinálja a különböző jellemzőket számos, nem korrelált döntési fába. Az eredményeket a rendszer egyenként kiértékeli az egyes döntési fák esetében, ehhez pedig az objektumosztályozási modellnek betanított osztályozást használja. Ennek eredményeképpen születik meg a részecsketípus automatikus becslése.

Növelje a termelékenységét a ZEISS műszaki tisztasági objektumosztályozása segítségével:

A sötét fémes alkatrészek esetében akár 50%-kal csökken a helytelen osztályozás esélye, és akár 25%-kal több időt is megspórolhat

Részecskékről készült képek összehasonlítása, objektumosztályozással és anélkül: pl. 10 minta esetében ez potenciálisan napi 3,5 óra megtakarított időt jelenthet.

A kiemelkedő szabványoknak köszönhetően ellenőrizheti a műszaki tisztaságot

A ZEISS termékcsaládja rendkívül hatékony munkafolyamatban teszi lehetővé a kombinált részecskefelismerést és -osztályozást, amely nemcsak megtalálja a részecskéket, hanem segít a szennyeződés oka szerinti osztályozásukban is.

A ZEISS segítségével egyetlen munkafolyamatban kombinálhatja a fény- és elektronmikroszkópokból származó adatokat, hogy további információkat kaphasson. Ezáltal részletes információkat nyerhet a szennyeződés okáról.

Az ábrán tisztasági teszteléshez használt berendezések láthatók. A teszt célja a műszaki tisztaság megvalósítása.

Átfogó műszaki tisztaság a ZEISS-nek köszönhetően

Fénymikroszkóp-rendszerek

Ismerje fel a potenciális szennyeződési kockázatokat

Különböztesse meg a részecskéket mennyiség, méreteloszlás és morfológia szerint, és tegyen különbséget a fémes és a nem fémes részecskék, valamint a szálak között egészen 2 μm nagyságig. Készítsen tisztasági jelentéseket az ipari szabványoknak megfelelően.

Korrelációs részecskeelemzés

Hozzon létre kibővített elemzési munkafolyamatokat

Jellemezze a folyamat szempontjából kritikus részecskéket, és azonosítsa a kritikus részecskéket a korrelációs mikroszkópia alkalmazásával, amely egyetlen munkalépésben kombinálja a fény- és elektronmikroszkópból származó adatait.

Elektronmikroszkópia és EDS-rendszerek

A szennyeződés forrásainak azonosítása

Mérje meg a részecskék morfológiai jellemzőit és használja a teljes mértékben automatizált alapvető elemzést a részecskék kémiai összetevők szerinti osztályozásához. A ZEISS SmartPI elektronmikroszkópokhoz készült részecskeelemző szoftvere automatizálja a részecskék észlelését, elemzését és osztályozását, miközben egyetlen alkalmazásba sűríti a mikroszkópos ellenőrzést, a képfeldolgozást és az alapvető elemzést.

A ZEISS fény- és elektronmikroszkópjai műszaki tisztasági megoldásokhoz

ZEISS SteREO Discovery.V8

ZEISS Axio Zoom.V16

ZEISS Axio Imager 2

ZEISS Axioscope 7

ZEISS EVO

ZEISS Sigma 300

További információkat szeretne megtudni a ZEISS műszaki tisztasági megoldásairól?

Töltse ki az alábbi űrlapot a műszaki tisztaságról szóló tájékoztató letöltéséhez!

Lépjen be a műszaki tisztaság új korszakába a ZEISS segítségével

A ZEISS ipari méréstechnikai megoldásai által nyújtott előnyök:

Gyorsabb elemzések és döntéshozatal a legújabb méréstechnikai megoldásokkal
Műszaki tisztaság a gyártásban, az elektronikai iparban, a gépjárműiparban és még sok más területen
Részecskemérések az érvényben lévő iparági szabványoknak megfelelően (pl. VDA 19.1, ISO 16232)
A maradék törmelék szennyeződése a meghatározott tisztasági teszteknek megfelelően
Tesztelések és tisztasági elemzések a szabványosított kivonási eljárásoknak megfelelően
Mérési szolgáltatások széles választéka: karbantartás, szervizelés, tartalék alkatrészek, szoftverek és hardverek frissítése, kalibrálás, tervezés és konzultáció
Támogatás Önnek és alkalmazottainak méréstechnikai kihívások esetén, amelyet a ZEISS Méréstechnikai Akadémiáján nyújtott képzés és oktatás révén szerezhet meg

Kompatibilis ZEISS-megoldások

Ipari mikroszkópok

Download more information

EN_Technical-Cleanliness_Technical-Paper_Electronics
oldal(ak): 7
file méret: 2599 kB

TCA Technical Paper Battery Particle Contamin EN
oldal(ak): 4
file méret: 1558 kB

Technical Cleanliness Application Medical Products
oldal(ak): 6
file méret: 2340 kB

Technical Cleanliness Solutions Poster, EN
oldal(ak): 1
file méret: 262 kB

Technical Paper Technical Cleanliness Electronics DE PDF
oldal(ak): 7
file méret: 2602 kB

ZEISS IMS Kunden Story INNIO Group Mik TCA DE PDF
oldal(ak): 7
file méret: 16465 kB

ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF
oldal(ak): 7
file méret: 16467 kB

ZEISS IQS Portfolio Overview EN
oldal(ak): 56
file méret: 6545 kB

ZEISS Technical Cleanliness OnePager DE
oldal(ak): 1
file méret: 1197 kB

ZEISS Technical Cleanliness OnePager EN
oldal(ak): 1
file méret: 1364 kB

ZEISS TechnicalClean SmartPI Flyer EN
oldal(ak): 1
file méret: 1147 kB

ZEISS TechnSaub SmartPI Flyer DE
oldal(ak): 1
file méret: 1373 kB

Termékjelentések és metrológiai kiemelések

{{ country.fda_text }}